时间地点：2017年7月4日15:00，教学楼2-104

主讲人：龚慧兰

主讲人介绍：

厦门睿析检测技术有限公司高级工程师

讲座内容：

1、半导体产业链/应用推动产业发展/发展趋势

2、从设计到制造与封装过程的失效分析

3、失效分析流程/失效发生的部位及使用的分析设备/分析设备介绍/案例分享